技术参数 离子能量：0.1~10keV； 离子束减薄样品角度：0~90度； 样品***大减薄速率：350um/h；主要特点 在不同的激发电压下，样品双面同时减薄； 超大TEM样品制备：>100um*100um； 可同时实现样品减薄和抛光； 支持升级低能离子源； 支持所有的离子源； 支持液氮冷却台；仪器介绍 来自欧洲***SEM、TEM、XTEM及FIB样品制备系统；可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来。 常规的离子减薄仪离子源能量较大，易破坏样品的微观结构，而且很难看到材料真实的自然状态下的纳米结构； 因此，采用低能离子源，在有效避免样品的微观结构被损伤的基础上，大大提高了电镜图片的清晰度，进而可以更为清楚的将材料自然状态下的微观结构展现出来。