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太阳能电池片EL缺陷检测仪(EL)
德国太阳能电池电致发光EL缺陷检测仪分为在线/离线型单片&组件缺陷检测仪、便携式太阳能电池缺陷测试仪，广泛应用于单晶、多晶及薄膜太阳能电池片及组件的缺陷检测，包括层压前、层压后、串焊等引起的缺陷成像分析；太阳电池缺陷检测仪是依据太阳电池的电致发光原理而研制的用于太阳电池组件内部缺...
更新:2011-04-18
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[新品] 太阳能电池IV测试仪(VS)
仪器简介：专业太阳能电池IV测试仪，配备国际认证AAA级稳态太阳能模拟器及相关测试附件，可对太阳能电池片的IV性能进行快速准确的测量、分级分选等； 同时可提供： 1，手动IV测试仪； 2，半自动IV测试仪； 3，全自动IV测试仪；
更新:2011-04-18
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[新品] 薄膜热应力测试系统(Thermal MOS)
世界***薄膜热应力测量系统（薄膜应力仪，薄膜应力计，薄膜应力测试仪），MOS多光束技术荣获美国专利技术！同时KSA公司荣获2008 Innovation of the Year Awardee！该设备已经广泛被全球***高等学府（如：Harvard University 2套，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown Universit...
更新:2011-04-18
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[新品] 薄膜应力测试仪(MOS)
世界***薄膜应力测量系统，又名薄膜应力计或薄膜应力仪！MOS美国专利技术！曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee！采用非接触MOS激光技术；不但可以精确的对样品表面应力分布进行统计分析，而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析；并且这种设计始终保证所有阵列的激光光点始终在同一...
更新:2011-04-18
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原位薄膜应力计(MOS)
技术参数 1.扫描分辨率：2 μm ； 2.平均曲率分辨率：< 2e-5 (1/m) 1-sigma (50km radius) 1-sigma； 3.平均翘曲测量重复性：< 5e-6 (radians) 1-sigma； 4.平均曲率重复性：<2×10-5 1/m (1 sigma) 主要特点 1.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 2.实时原...
更新:2011-04-18
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光谱椭偏仪(PHE)
技术参数 膜厚范围：0-30000nm 折射指数：± 0.0001 厚度准确度：± 0.01nm 入射角度：20 - 90° 波长范围：250-1100nm（深紫外、近红外、红外可选） Psi=±0.01°，Delta=±0.02° 主要特点 高精度测量； 变角度功能； 全光谱测量；仪器介绍 ***高精度光谱椭...
更新:2011-04-18
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离子减薄仪(IV)
技术参数 离子能量：0.1~10keV； 离子束减薄样品角度：0~90度； 样品***大减薄速率：350um/h；主要特点 在不同的激发电压下，样品双面同时减薄； 超大TEM样品制备：>100um*100um； 可同时实现样品减薄和抛光； 支持升级低能离子源； 支持所有的离子源； 支持液氮冷却台；仪器介绍 来自欧洲***SEM...
更新:2011-04-18
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原子层沉积系统
技术参数 基底温度范围:高大800℃；主要特点 1,专业ALD设备制造商,提供专业的用于科研或研发级的ALD/PEALD设备及工艺； 2,可以选择横流式沉积模式、或top flow (showerhead喷淋花伞) 沉积模式或等离子体增强沉积模式； 3,提供2英寸~12英寸全套专业的原子层沉积系统方案； 4,Loadlock Chamber可快速加...
更新:2011-04-18
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多功能扫描探针显微镜(SPM)
技术参数 标准型扫描器 XY：20μm，Z：2μm 分辨能力 XY：0.2nm, Z： 0.01nm（可实现原子级分辨） 主要特点 测试功能： * 形貌测量：接触式AFM、轻敲式Tapping、扫描隧道STM； * 微摩擦力研究：FFM功能、切向调制摩擦力LM-FFM功能，摩擦力曲线； * 微观磁力研究：高分辨磁力显微镜MFM功能； * ...
更新:2011-04-18
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[新品] AAA太阳光模拟器(XES)
国际标准化Class AAA级的太阳能模拟器，又称太阳光模拟器或者太阳模拟器；适合于各种光电材料、光电器件、太阳能电池领域的研究、测试以及评价等；
更新:2011-04-18
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[促销] 太阳能电池量子效率测试系统(VS)
太阳能电池量子效率测量系统（光谱响应测试系统、IPCE测试系统），广泛应用于各种太阳能电池包括单结、多结薄膜太阳能电池的SR光谱响应，EQE外量子效率，IQE内量子效率，IPCE，相对反射率，***反射率，相对透射率，***透射率等测量和研究；匹配国际测试标准：IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)测...
更新:2011-04-18
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