世界***薄膜热应力测量系统（薄膜应力仪，薄膜应力计，薄膜应力测试仪），MOS多光束技术荣获美国专利技术！同时KSA公司荣获2008 Innovation of the Year Awardee！该设备已经广泛被全球***高等学府（如：Harvard University 2套，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown Universit...
世界***薄膜应力测量系统，又名薄膜应力计或薄膜应力仪！MOS美国专利技术！曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee！采用非接触MOS激光技术；不但可以精确的对样品表面应力分布进行统计分析，而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析；并且这种设计始终保证所有阵列的激光光点始终在同一...
