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[新品] 薄膜热应力测试系统(Thermal MOS)
世界***薄膜热应力测量系统（薄膜应力仪，薄膜应力计，薄膜应力测试仪），MOS多光束技术荣获美国专利技术！同时KSA公司荣获2008 Innovation of the Year Awardee！该设备已经广泛被全球***高等学府（如：Harvard University 2套，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown Universit...
更新:2011-04-18
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[新品] 薄膜应力测试仪(MOS)
世界***薄膜应力测量系统，又名薄膜应力计或薄膜应力仪！MOS美国专利技术！曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee！采用非接触MOS激光技术；不但可以精确的对样品表面应力分布进行统计分析，而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析；并且这种设计始终保证所有阵列的激光光点始终在同一...
更新:2011-04-18
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原位薄膜应力计(MOS)
技术参数 1.扫描分辨率：2 μm ； 2.平均曲率分辨率：< 2e-5 (1/m) 1-sigma (50km radius) 1-sigma； 3.平均翘曲测量重复性：< 5e-6 (radians) 1-sigma； 4.平均曲率重复性：<2×10-5 1/m (1 sigma) 主要特点 1.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 2.实时原...
更新:2011-04-18
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